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    3938型扫描电迁移率粒径谱仪

    更新时间：2024-03-17

    简要描述：

    产品详情

    TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局（NIST）使用TSI差分静电迁移率分析仪（DMA）对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪粒径测量是审慎的技术，在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径

    特性和优点

     

    高分辨率数据：高达167通道

    1nm到1,000nm的极宽粒径范围

    符合ISO 15900:2009标准

    快速测量：<10s扫描

    宽浓度范围，高达 10 7 颗粒/cm 3

    给您zui大灵活度的组件设计

    触摸屏控制无需电脑操作

    免工具安装易于设置，自动发现组件

    审慎的颗粒测量：适合多模样品

    不依赖于粒子和流体的光学性质

    宽系统配置选项：可选水介质或丁醇介质凝聚粒子计数器；可选传统的或无辐射中和器

     

    应用

     

    纳米技术研究和材料合成

    大气研究和环境检测

    燃烧和发动机排放研究

    室内空气质量测量

    成核/凝结研究

    吸入毒理学研究

    包含组件

    与您自选DMA差分静电迁移率分析仪配套的静电分级器

    七款凝聚粒子计数器之一

    Aerosol Instrument Manager?气溶胶仪器管理软件
     

     

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