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    1NM 3938E77型扫描电迁移粒径谱仪

    更新时间：2024-03-17

    简要描述：

    产品详情

    TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移粒径谱仪被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量 标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪（1nm-DMA）组件后，SMPS粒径谱 仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。。
    以下特性和优势是基于由 3082 型静电分级器 、 1nm-DMA差分迁移分析仪 、 3777型纳米增 强仪 、3772型凝聚粒子计数器 等组

    特性和优势

     

    高分辨率粒径分布

    + 64通道/10倍粒径

    + 1到50nm之间多于109通道

    给您zui大灵活度的组件设计

    1nm到50nm的极宽粒径范围

    +和3081A型长差分电迁移分析仪配套使用能够测量1nm到1um

    三个数量级的粒径

    将散逸损失降到zui低，系统高度整合

    通过气溶胶仪器管理（AIM）软件进行系统操作

    离散颗粒物测量：多模态样品测量效果*

     

    应用

     

    基础气溶胶研究

    颗粒成核及生长研究

    大气及气候研究

    燃烧及发动机排放研究

    过滤器及空气净化器测试

    吸入或暴露舱研究

    健康影响因素研究

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